小智 口腔检查应在牙弓、骨和颅面的长、宽、高三维方向上进行，通过模型测量、排牙试验了解牙列拥挤情况。X线头影测量是分析颅面生长发育和错畸形种类的重要手段。
模型分析
1.牙列拥挤度或间隙分析：
牙冠宽度的总和与牙弓现有弧形的长度之差即为拥挤度，一般分为3度：
Ⅰ度拥挤：相差2-4mm；
Ⅱ度拥挤：相差4-8mm；
Ⅲ度拥挤：相差8mm以上，
⑴测量现有牙弓弧形长度：
即可用间隙（骨量）。将一根软丝弯制成个体牙弓形态，放置在咬合面上，并通过后牙的邻接点和前牙的切缘。两侧第一恒磨牙近中邻接点间软丝的长度（将丝拉直后测量所得）就是牙弓的可用间隙。
⑵测量排齐牙齿所需的间隙（牙量）：
用游标卡尺测量第一恒磨牙以前的牙齿牙冠宽度，其总和为必需间隙。
2.上下颌牙齿间的牙量关系——Bolton指数
指上下牙近远中宽度的比例关系。
⑴
全牙比=（12个下颌牙总宽度1/2个上颌牙总宽度）×100%=91.3%±0.26%
⑵
前牙比=（6个下颌前牙总宽度1/2个上颌前牙总宽度）×100%=77.2%±0.22%
X线头影测量分析
X线头影测量是在头颅定位仪的严格定位下摄取的头颅X线影像，采用角度、线距和比例等测量技术分析颅面及牙颌面硬软组织结构特征和形态变化的一项技术。几十年来，X线头影测量一直是口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。X线头影测量不能在X线头影上直接进行，而需在描绘的头影图上进行。
X线头影测量的主要应用：
①研究颅面生长发育
一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量，横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
②牙颌、颅面畸形的诊断分析
通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，从而对畸形能作出正确诊断。
③确定错畸形的矫治设计
当通过X线头影测量分析牙颌、颅面结构后，根据错的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制订出正确可行的矫治方案。
④研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
通过X线头影测量评定矫治过程中的牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫治器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
⑤外科正畸的诊断和矫治设计
通过X线头影测量对需进行正颌外科的患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及需移动的颌骨距离。
一般X线检查
1.口内根尖片
显示牙齿的发育进展，牙齿萌出的顺序，多生牙，缺失牙，牙齿异常等。
2.咬合片
显示多生牙、埋伏牙的位置、牙根病变、腭裂间隙等。
3.许勒位片
显示髁突相对于关节窝的位置，关节间隙的宽度，关节头和关节窝形态和结构的变化。
4.全口牙位曲面体层X线片
显示全口牙齿发育情况、上下颌骨、颞下颌关节、上颌窦等有无病理性损害。
5.锥形束计算机断层扫描CBCT
主要用于埋伏牙定位、发现牙根异常、观察牙槽骨壁密度、探究牙根与神经管或骨壁之间的关系，测量各解剖标志点间的距离及角度、评价软组织结构形态等。
照相分析
1.正面像
显示面部高度，左右面部发育是否对称，是否存在其他面部畸形。正面微笑想显示笑线，是否存在露龈微笑。
2.侧面像
显示侧面凸度、深度以及下颌的斜度、颏度的突度等。
3.口内像
显示牙齿位置、牙体、牙周、牙弓形状及咬合情况。一般可照咬合位的正面、左右侧位、前牙覆覆盖及上下牙弓。
目前临床上面部照相主要是记录患者在治疗前的面型牙情况，以及治疗中、治疗后的变化。
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资料收集｜正畸患者摄影资料的采集
生长发育评估
人的一生中有3个快速生长期：第一快速期：3-7个月；第二快速期：4-7岁；第三快速期：11-15岁（即青春快速期）。颅颌面的生长快速期和缓慢期与全身的机体发育基本一致，因此青春快速期与错畸形的矫治关系密切，受到正畸医师的关注。各类错畸形的矫治，尽可能利用生长发育快速期，在最佳的矫治时机矫治能起到事半功倍的效果。
正确判断颅颌面生长发育状况，并利用颅颌面生长发育潜力的相关知识，有助于早期诊断和预测错畸形的发生、发展和预后，为确立正确的矫治计划打下良好基础。
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